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NANOVEA 광학 프로파일러는 색수차 공초점(Chromatic Confocal) 기술을 기반으로 표면의 높이와 형상을 정밀하게 측정하는 3D 비접촉식 프로파일로미터입니다.
NANOVEA는 소형 독립형 시스템부터 휴대용 및 모듈형 시스템까지 다양한 광학 프로파일로미터를 제공합니다. 고속 센서를 적용하면 넓은 면적의 표면도 높은 정확도로 신속하게 스캔할 수 있습니다.
한 번의 프로파일로미터 스캔만으로 다음과 같은 다양한 표면 특성을 측정하고 분석할 수 있습니다.
이를 통해 단순한 표면 높이 측정을 넘어 재료의 미세한 표면 구조와 형상 특성을 정량적으로 분석할 수 있습니다.
색수차 공초점 기술은 색수차가 크게 발생하도록 설계된 일련의 렌즈를 통과하는 백색광을 이용합니다.
렌즈를 통과한 각각의 파장은 서로 다른 거리에 초점을 형성하며, 이를 통해 센서의 수직 측정 범위가 결정됩니다.
측정 대상 표면이 센서의 측정 범위 안에 위치하면, 표면 높이에 해당하는 특정 파장만 정확하게 초점이 맞고 나머지 파장은 초점에서 벗어나게 됩니다.
초점이 맞은 파장만 핀홀 필터를 통과하여 CCD 분광기에 도달하며, 측정된 파장값은 표면의 수직 위치, 즉 높이값으로 변환됩니다.
이러한 원리를 통해 표면과 직접 접촉하지 않고도 다양한 재료의 높이와 3D 형상을 정밀하게 측정할 수 있습니다.
휴대성과 공간 효율성을 고려한 소형 비접촉식 프로파일로미터입니다.
휴대가 가능한 구성과 고속 측정 성능을 갖춘 비접촉식 프로파일로미터입니다.
다양한 측정 환경과 응용 분야에 맞춰 구성할 수 있는 표준형 모듈식 시스템입니다.
크기가 크거나 측정 면적이 넓은 시료를 분석할 수 있도록 설계된 대면적 모듈식 시스템입니다.
NANOVEA 광학 프로파일로미터는 시료 표면과 직접 접촉하지 않고 2D 및 3D 표면 데이터를 측정합니다.
표면의 거칠기와 가공 또는 마감 상태를 정량적으로 측정하고 비교합니다.
표면의 미세한 텍스처와 결정립 구조 및 분포 특성을 분석합니다.
시료의 전체적인 기하 형상, 윤곽 및 표면 형태를 2D와 3D 데이터로 측정합니다.
표면의 단차 높이와 박막, 코팅층 및 기타 층의 두께를 비접촉 방식으로 측정합니다.
마모, 결함, 돌출부 또는 함몰부의 부피와 표면 면적을 정량적으로 분석합니다.
시료의 평탄도, 굴곡 및 휨 변형을 측정하고 표면 전체의 높이 편차를 평가합니다.
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