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NANOVEA JR25

휴대형 광학 프로파일로미터

실험실과 현장에서 활용할 수 있는 
비접촉식 2D·3D 표면 측정 시스템


NANOVEA JR25는 실험실뿐만 아니라 현장에서도 사용할 수 있도록 설계된 휴대형 광학 프로파일로미터입니다.


NANOVEA의 데스크톱형 표면 프로파일로미터와 동일한 색수차 공초점 광학 센서와 측정 원리를 적용하여, 부품이나 조립체 또는 다양한 시료의 표면을 비접촉 방식으로 정밀하게 측정할 수 있습니다.


측정 대상물을 별도로 절단하거나 장비에 맞게 가공하지 않고도 실제 부품에서 직접 신뢰성 높은 3D 표면 형상 데이터를 획득할 수 있습니다.

실험실 수준의 측정 성능을 제공하는 휴대형 표면 프로파일러

주요 사양

X–Y 스캔 영역
25 × 25 mm 전동식 스캔


전동식 X–Y 스테이지를 이용하여 지정된 영역의 표면을 자동으로 스캔하고 2D 및 3D 데이터를 획득합니다

높이 측정 범위
나노미터에서 센티미터까지


미세한 표면 거칠기부터 큰 단차와 형상까지 폭넓은 높이 범위를 측정할 수 있습니다.

장비 크기
20 × 30 × 17 cm


컴팩트한 크기로 설계되어 실험실은 물론 생산 현장과 외부 측정 환경에서도 편리하게 사용할 수 있습니다.

스캔 속도
최대 20 mm/s


넓은 면적도 효율적으로 측정할 수 있도록 빠른 스캔 속도를 제공합니다.

색수차 공초점 센서 기술




JR25는 비접촉식 색수차 공초점 센서 기술을 이용하여 표면의 높이와 형상을 측정합니다.

서로 다른 파장의 빛이 각각 다른 초점 위치에 맺히는 광학 원리를 활용하여, 측정 표면과 접촉하지 않고도 정밀한 높이 정보를 획득합니다.