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NANOVEA JR100

고속 휴대형 광학 프로파일로미터

NANOVEA JR100은 넓은 면적을 빠르고 정확하게 검사할 수 있도록 설계된 고속 휴대형 비접촉식 광학 프로파일로미터입니다.


NANOVEA의 벤치탑 표면 프로파일로미터에 적용되는 것과 동일한 색수차 공초점(Chromatic Confocal) 센서 기술을 기반으로 합니다.


연속 스캔을 통해 연구실 수준의 2D 및 3D 표면 형상 분석 결과를 제공하며, 빠른 측정 속도와 높은 처리 성능, 뛰어난 이동성을 하나의 시스템에 결합했습니다.

100 mm 연속 스캔


JR100은 100 × 100 mm의 전동식 X-Y축 이동 범위를 이용하여 

넓은 면적을 고속으로 측정합니다.


하나의 영역을 연속으로 스캔하기 때문에 여러 측정 이미지를 

결합하는 이미지 스티칭 작업이 필요하지 않습니다.

초고속 스캔 성능

초당 최대 384,000 포인트 측정


JR100은 초당 최대 384,000개의 측정 포인트를 수집하는 초고속 스캔 성능을 제공합니다.

넓은 표면에서도 많은 측정 데이터를 빠르게 확보할 수 있어 검사 시간과 분석 처리 시간을 줄일 수 있습니다.

진정한 2D·3D 휴대형 측정 시스템


JR100은 설치 공간을 적게 차지하는 컴팩트한 설계와 17 kg의 경량 구조를 갖추고 있어 필요한 장소로 편리하게 이동할 수 있습니다.

연구실뿐만 아니라 생산 현장과 품질관리 환경에서도 2D 및 3D 비접촉 표면 측정을 수행할 수 있습니다.

현장 품질관리를 위한 최적의 솔루션


고속 센서가 탑재된 휴대형 측정 시스템은 표면 프로파일 측정 기술의 활용 범위를 연구실에서 실제 검사 현장까지 확장합니다.

JR100을 통해 다양한 위치에서 신속하고 정밀한 표면 형상 측정과 품질관리를 수행할 수 있습니다.

X–Y 스캔 영역
100 × 100 mm 
전동식 스테이지
측정 높이 범위
나노미터에서 센티미터 범위
본체 크기
44 × 49 × 32 cm
스캔 속도
20 mm/s

색수차 공초점 센서 기술


색수차 공초점 센서 기술을 기반으로 다양한 재료와 표면을 비접촉 방식으로 측정할 수 있습니다.